上海2013年11月22日電 /美通社/ -- 美國藍菲光學（Labsphere）將應邀參加2013年11月25日至27日在廣州保利世貿中心博覽館舉辦的2013第三屆高工LED照明展，展位號為2M73。
作為全球光測量領域的領導者，藍菲光學的光譜測試系統(tǒng)及積分球用漫反射涂料享譽全球照明及LED行業(yè)，在全球擁有眾多用戶。藍菲光學將在本次盛會上與參觀者分享2013年度藍菲光學在光譜測試領域取得的最新卓越成果。
屆時，藍菲光學不僅展示專為照明及LED工業(yè)類用戶量身定制的LFC光譜測試系統(tǒng)，同時還將全方位展示藍菲光學最新推出的新一代可自由定制系統(tǒng)模塊的光譜測試系統(tǒng) -- illumia® plus。
封裝LED行業(yè)的用戶可以了解如何利用藍菲光學的I1000B型和I2000 A&B型平均光譜強度探頭測量產品的CIE平均光譜強度。
參觀者還可以在藍菲光學的展位上看到現(xiàn)今市場上功能較強大的便攜式光譜分析測試設備 --illumia® lite，并親自體驗藍菲光學最新推出的光譜測試平臺Integral®是如何徹底改變傳統(tǒng)實驗室測試方式的。 Integral®軟件平臺能讓用戶的測試不再受到地域的限制，只需一臺可以訪問HTML5瀏覽器的終端設備，便可以從全球任一地點看到實驗室的測試結果。
作為全球首個定位于LED產業(yè)鏈的展覽會，高工LED展以其獨特的展示方式、高端的品牌定位，打造LED行業(yè)風向標，為業(yè)界搭建了一個專業(yè)而高品質的LED產品展示交流及采購平臺。
