德國布倫瑞克2024年1月25日 /美通社/ -- 作為晶圓級測試解決方案的先驅(qū)，旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 的先進半導體測試 (AST) 部門今天宣布在射頻校準技術(shù)方面取得一項重大成果。該部門與德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究院 (PTB) 合作，在表征高達110 GHz的商用校正片方面成功實現(xiàn)了完全可追溯性，樹立了新的行業(yè)標桿。
Gia Ngoc Phung 博士 (PTB，德國) 將 TCS-050-100-W 校正片證書交給 MPI
這項在先進半導體測試部門射頻技術(shù)總監(jiān)Andrej Rumiantsev博士帶領(lǐng)下取得的成果，代表著MPI整個射頻產(chǎn)品線的重大飛躍。完全可追溯的特征為更準確、可靠和被普遍接受的高頻測量鋪路，這對于5G等尖端技術(shù)至關(guān)重要。
Rumiantsev博士表示："在如此高的頻率下實現(xiàn)射頻校準的完全可追溯性證明了我們對精度和質(zhì)量的重視。這項突破是我們與PTB長期合作的成果。這不僅是旺矽先進半導體測試部門的進步，也是整個微波量測學界、半導體和電信行業(yè)的重大進步。"
德國PTB晶圓級散射參數(shù)部門負責人Uwe Arz博士表示："制定晶圓級射頻系統(tǒng)校準的國家標準是PTB多年來一直努力實現(xiàn)的目標。我們很自豪地宣布將溯源鏈轉(zhuǎn)讓給MPI的商用校正片，這在業(yè)內(nèi)實屬首次。"
旺矽先進半導體測試部門的最新成果突顯了其是半導體測試行業(yè)的領(lǐng)導者，有望在高頻測試領(lǐng)域開辟新路徑，并鞏固其市場領(lǐng)先地位。
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